2022-01-13
集束イオンビーム走査型電子顕微鏡
理化学研究所 広島大学共同研究拠点
二重のカーテンに守られた最新鋭のイメージング装置
(▲トップ画像)集束イオンビームによる表面加工と、物質の表面を観察する走査型電子顕微鏡を組み合わせた装置。細胞や組織をスライスしながら断面撮影し、得られた連続画像をコンピュータで三次元再構築することで、細胞内の構造物とそれを取り巻く環境を丸ごと観察します。装置を操るのは、細胞場構造研究チームの板橋岳志研究員と岩根敦子チームリーダー(右)。
![カーテンに囲まれた集束イオンビーム走査型電子顕微鏡](https://bdrtimes.riken.jp/wp-content/uploads/2022/01/FIB-SEM650_3-2.jpg)
![建物内部の回廊](https://bdrtimes.riken.jp/wp-content/uploads/2022/01/Hiroshima650.jpg)